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品質／信頼性ハンドブック

半導体

資料名 資料番号 発行年月 ファイルサイズ 半導体　品質／信頼性ハンドブック全編 C12769JJ7V0IF00 2008/6 9,542KB 　第1章　品質保証システム C12769JJ7V0IF00 2008/6 492KB 　第2章　半導体の信頼性 C12769JJ7V0IF00 2008/6 281KB 　第3章　故障モ－ドとメカニズム C12769JJ7V0IF00 2008/6 3,087KB 　第4章　故障解析 C12769JJ7V0IF00 2008/6 4,852KB 　第5章　半導体デバイスのご使用にあたって C12769JJ7V0IF00 2008/6 881KB 　付録 C12769JJ7V0IF00 2008/6 609KB

光・マイクロ波半導体

資料名 資料番号 発行年月 ファイルサイズ 品質／信頼性ハンドブック全編 PQ10478JJ02V0TN 2006/06 5,366KB 　第1章　品質保証システム PQ10478JJ02V0TN 2006/06 483KB 　第2章　半導体の信頼性 PQ10478JJ02V0TN 2006/06 169KB 　第3章　故障モ－ドとメカニズム PQ10478JJ02V0TN 2006/06 1,308KB 　第4章　故障解析 PQ10478JJ02V0TN 2006/06 2,734KB 　第5章　設計容易化および信頼性解析手法 PQ10478JJ02V0TN 2006/06 153KB 　第6章　半導体デバイスのご使用にあたって PQ10478JJ02V0TN 2006/06 379KB 　付録 PQ10478JJ02V0TN 2006/06 468KB

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品質／信頼性への基本方針

• 品質システムの認証(ISO)
• 品質／信頼性ハンドブック
• 半導体デバイスの品質水準(PDF:63KB)
• ベアダイ品質保証の概要(PDF:63KB)
• 静電気放電（ESD）破壊対策ガイド(PDF:627KB)
• 半導体故障率 (PDF:616KB)
• FAQ
• 用語集