|
図4-4に示すように,デバイスとの隣接間距離が広がるほど,その温度差が小さくなります。また同一パッケージ面内での温度差も生じることが分かります。
|
|
温度測定パッケージ
35x35mm
352ピンPBGA |
隣接パッケージ
35x35mm
352ピンPBGA |
リフロー条件:232℃~233℃
(BGAボール部のピーク温度)
リフロー炉:エア方式
コンベア・スピード:0.9m/min
実装基板
層数:4層 材質:FR-4 板厚:1.6mm
温度測定個所
A:隣接パッケージに近いボール部
B:隣接パッケージから遠いボール部 |
|
図4-3 検証時の温度測定条件
|
|