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第3章 はんだ付け条件


3.2 耐熱性

3.2.1 パッケージクラックとメカニズム
   
プラスチックパッケージは室温に放置すると空気中の水分を吸収します。
この状態ではんだ実装の熱ストレスを加えると、デバイスの耐熱性が劣化し、パッケージ内部に剥離が発生することがあります。
そして最も密着強度の弱い箇所の剥離を起点に,パッケージクラックは発生します。

新光CZ処理 ヘッダパターンの写真(10.4KB)

IR35-00-2条件の写真(8.76KB)

写真3-2-1 パッケージクラック写真


以下に,パッケージクラックのメカニズムを示します。

発生メカニズムの図(i)(4.61KB)
(1)パッケージの吸湿
・バルク吸湿
・界面吸湿

矢印(0.6KB)
 

発生メカニズムの図(ii)(5.29KB)
(2)実装処理
・急激な熱ストレス
    ↓
・パッケージ温度急上昇

矢印(0.6KB)
 

発生メカニズムの図(iii)(4.23KB)
(3)パッケージの内部応力増大
・吸湿水分の気化・膨張
・各構成材料の熱膨張差

矢印(0.6KB)
 

発生メカニズムの図(iv)(3.56KB)
(4)界面剥離発生
(→内部応力集中)

矢印(0.6KB)
 

発生メカニズムの図(v)(3.52KB)
(5)パッケージ・クラック発生
(→内部応力緩和)

図3-2-1 パッケージクラック発生メカニズム
3.1.5(2)「リード材:Cu」へ3.2.2 「デバイスの吸湿性」へ