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平成13年7月11日

日本電気株式会社

世界最先端のシステムLSIプロセスの開発を完了


次世代システムLSIプロセス(UX6)
「次世代システムLSIプロセス(UX6)」

NEC(NECエレクトロンデバイス)はこのたび、次世代デジタルコンシューマ、携帯電話、基幹通信、インターネットサーバをドライブする0.10μm世代(ゲート長=65nm、動作電圧=1.0V)システムLSIプロセス「UX6」の基本モジュールの開発を完了しました。

「UX6」は、以下の特長により、超高性能と低消費電力を実現いたします。
  1. 最先端のArF(フッ化アルゴン)レーザ露光技術と高精度エッチング技術によりトランジスタのゲート長を65nmまで微細化することにより、当社従来プロセス(「UX5」プロセス=ゲート長0.095μm)と比べて約1.5倍の高集積度を実現。

  2. ゲート長微細化に伴うゲート絶縁膜の薄膜化により発生する漏れ電流の増加を低減するため、ゲート絶縁膜(シリコン酸化膜)の表面だけに窒素を導入する「ラジカル酸窒化プロセス」を新たに開発適用し、ゲート絶縁膜の漏れ電流を従来プロセスに比べて2桁近く低減し、大幅な低消費電力を実現。

  3. 1GHz超領域の高速・高性能対応を実現するため、新材料によるLow-k層間絶縁膜(誘電率2.4以下)を採用し、配線間容量を低減。

  4. 様々な用途に対応するため、トランジスタを目的別に4種類(Ultra High Speed, High Speed、Standard(STD)、Low Leakage Current)用意し、きめ細かなスピード、パワーマネジメントが可能。
    • Ultra High Speed / High Speedは世界最高レベルの性能を提供。
    • STDトランジスタはIP流用に対応。
    • Low Leakage Currentはトリプルオキサイド技術を適用し、漏れ電流を大幅に低減。
NECでは、微細化に伴い隣接する配線間の信号干渉などにより生じる信号伝播の際の波形の歪みを抑え込むシグナルインティグリティ対応技術をさらに強化し、プロセスとリンクした設計技術の開発も進めております。また、ブロードバンド化で注目されるパッケージ多ピン化技術も、実装技術とプロセス技術をリンクさせ高効率化を図ることにより、高速多ピン(2000ピン以上)を実用化しております。モバイル分野においてはパワーマネジメント技術の向上をさらに推進し、超低消費電力システムLSIを供給してまいります。

 なお、NECでは、今回開発した「UX6」プロセスのデザインルールとHigh SpeedおよびSTDトランジスタ特性の目標値(ターゲット)を、TSMC社(Taiwan Semiconductor Manufacturing Company Ltd.)と共有いたしました。
 両社でデバイスターゲットを共有することにより、カスタマーは両社で検証されたIPコアを容易に活用できることになります。こうしたデザインル−ル共通化の動きはシステムLSIに必須であるIPコアの流通を促進させるものと考えております。また、将来のファウンダリ活用も容易化します。

「UX6」をプラットフォームにし、シグナルインティグリティ対応技術、高速・ワイドバンド技術、低消費電力技術を統合したシステムLSI設計基盤「CB−100」は、平成15年(暦年)第一四半期から受注開始予定です。

以 上



<この発表に関するお客様からの問い合わせ先>

NECエレクトロンデバイス 半導体テクニカルホットライン
電 話 (044)435−9494(直通)
FAX (044)435−9608
E-Mail s-info@saed.tmg.nec.co.jp
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