ページの先頭です
本文へジャンプする

本ウェブサイトでは、JavaScriptおよびスタイルシートを使用しております。
お客さまがご使用のブラウザではスタイルが未適応のため、本来とは異なった表示になっておりますが、 情報は問題なくご利用いただけます。



Volume 75 (2007/06/26)

VLSIシンポジウム2007発表論文のご紹介 (1/5)


2007年6月11日から16日まで、京都のリーガ・ロイヤルホテルで、最先端のデバイス、プロセスや回路技術が発表される「VLSIシンポジウム (2007 Symposia on VLSI Technology and Circuits) 2007」が開催されました。今回は、「Symposium on VLSI Technology」で当社単独、および当社とNECが共同で発表した研究成果をご紹介します。


VLSIシンポジウムの概要

VLSIシンポジウムは、半導体電子デバイス/回路技術分野においてIEDM (International Electron Devices Meeting)、ISSCC (International Solid State Circuits Conference)とならぶ大きな学会で、デバイス/プロセスをテーマとするVLSI Technologyと回路技術をテーマとするVLSI Circuitsで構成されています。会期中はそれぞれの学会にShort Courseが併設され、VLSI Technology学会では32nm世代に向けての展望、VLSI Circuits学会ではばらつき対応設計、無線トランシーバ用RFIC設計のレクチャーが行われました。



NECエレクトロニクスの発表論文

NECグループが主著者となる論文は9件採択されました(Technology5件、Circuit4件)。そのうちNECエレクトロニクスは単独で1件、NECと共同で3件の論文を発表しました。この4つの論文の概要を紹介します。

<<論文タイトル>>



  • Session 3A-1: Variability in SRAM
    • SRAM Critical Yield Evaluation Based on Comprehensive Physical / Statistical Modeling, Considering Anomalous Non-Gaussian Intrinsic Transistor Fluctuations
  • Session 10A-2: CMOS Platform/Integration Technology
    • A Cost-Effective LOP/LSTP Integrated CMOS Platform Utilizing Multi-Thickness SiON Gate Dielectrics with Hafnium for 45-nm Node
  • Session 12A-4: Advanced CMOS Devices
  • Session 9-1: Low Power Wireless Communication


| 1   2   3   4   5 |