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製品情報 > ASIC >

DSM（Deep Sub-Micron）における物理現象へのソリューション


DSM（Deep Sub-Micron）のLSI設計時には，信号や電源の信頼性を確保するために様々な物理現象への対応が必要となっています。
NECエレクトロニクスでは，今までに取り組んできた経験と先進の研究から，これらの課題を解決する手法を確立し，LSIの高品質化を実現しています。


DSMに対して考慮する物理現象

各DSM項目の保証は，「予防（Prevention）」，「チェック（Check）」，「修正（Repair）」の手順で行っています。
NECエレクトロニクスは「予防」は，事前の考慮あるいは設計時の制約などに適用ずみであり，お客様での手間を極力省略しております。また，ほとんどの「チェック」と，すべての「修正」を弊社独自のツールで行い，高品質な信頼性確保を行っています。